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  超低頻高壓發(fā)生器安全絕緣性能試驗(yàn)要求，輸出電壓和波形檢驗(yàn)

  電壓峰值不穩(wěn)定度試驗(yàn)

  超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.0%的電壓測(cè)量裝置，在60min內(nèi)測(cè)量高壓輸出電壓峰值逐步上升至1.0倍額定值時(shí)，分10次測(cè)量輸出電壓峰值。通過計(jì)算，輸出電壓峰值不穩(wěn)定度應(yīng)滿足電壓峰值不穩(wěn)定度小于1%。

  電壓頻率穩(wěn)定度試驗(yàn)

  超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.0%的電壓測(cè)量裝置，在60min內(nèi)測(cè)量高壓輸出電壓峰值逐步上升至1.0倍額定值時(shí)，分10次測(cè)量輸出電壓頻率。

  通過計(jì)算，輸出電壓頻率不穩(wěn)定度應(yīng)滿足電壓頻率不穩(wěn)定度小于3%。

  正弦電壓的波形畸變率試驗(yàn)

  超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.5%的電壓測(cè)量裝置，測(cè)量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8和1.0倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。

  超低頻高壓發(fā)生器輸出正弦電壓的波形畸變率應(yīng)滿足正弦電壓的波形畸變率小于5%。

  余弦方波電壓的極性轉(zhuǎn)換時(shí)間試驗(yàn)

  超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接電容量為50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.5%的電壓測(cè)量裝置，測(cè)量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8和1.0倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。

  超低頻高壓發(fā)生器輸出余弦方波電壓的極性轉(zhuǎn)換時(shí)間應(yīng)滿足余弦方波電壓的極性轉(zhuǎn)換時(shí)間不大于10ms。

  正/負(fù)半周周期對(duì)稱性試驗(yàn)

  超低頻高壓發(fā)生器高壓端連接50%額定電容量的電容性負(fù)載試品(如電力電容器)，外接綜合誤差小于或等于1.0%的電玉測(cè)量裝置，測(cè)量高壓輸出電壓峰值逐步上升至0.3、0.5、0.8和1.0信倍額定值時(shí)的輸出電壓波形。

  超低頻高壓發(fā)生器輸出電壓的正/負(fù)半周周期的絕對(duì)誤差應(yīng)滿足電壓的正/負(fù)半周周期的絕緣誤差小于0.5s。